(1) 證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；

(2) 測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時放電低于規(guī)定值時*高電壓(終止放電電壓)。

(3) 測定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。

(二)試驗(yàn)條件

(1) 交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。

(2) 試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。

(3) 由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時以上的時間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓*高值以上的電壓。

(4) 經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗(yàn)(油浸)。

(三)試驗(yàn)程序

1. 將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。

2. 根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。

3. 對所選擇的測試回路用視在放電量校準(zhǔn)器對整個測試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正，校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把分刻度系數(shù)H調(diào)到H=U0C0/K值。校正完畢后，測試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而**地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2．對于連接線應(yīng)避免將**暴露在外，防止**電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn)，必要時要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時局部放電量都比正常值大很多，此時儀器的儀表必然會超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時針旋轉(zhuǎn)時，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時針時，量程縮小十倍。

5. 試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對整個測試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。